新聞資訊您當前的位置：首頁 > 新聞資訊 > fluke熱像儀分分鐘搞定產品熱分析
fluke熱像儀分分鐘搞定產品熱分析
日期：2012-08-02瀏覽：2928次
fluke熱像儀分分鐘搞定產品熱分析
[研討會簡介] 大部分產品在研發階段都需要進行熱分析，目前紅外熱像檢測是進行熱分析zui便捷、的方法；但在實際使用時，外殼遮擋、小目標、發射率等問題往往會阻礙紅外熱像儀拍攝準確、清晰的熱圖；本次技術交流針對這些難題，提出切實、有效的解決方案，使客戶能夠準確、快速地進行產品的熱分析工作。福祿克熱像儀，助您輕松搞定產品熱分析。 http://www.chinawebinar.com/lobbyPage.do?eventId=461382&
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 美國BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創DEWETRON
- ARC電池絕熱量熱儀/熱安全性能
- 德國GMC-I高美
聯系我們
在線客服：
